Die obige TK-Anlage erlitt einen von außen gut sichtbaren Überspannungsschaden. Die Röntgenbilder des äußerlich unbeschädigten Speicherbausteins und CPU zeigen in einem solchen Fall, wie die zu erwartenden Spurenbilder im Inneren von Halbleitern aussehen können. Hier liegen Schäden im DIE der CPU und zahlreiche verdampfte Bonddrähte vor. Ähnliche Spurenbilder sucht man ergo bei Elektroniken ohne von außen erkennbare Schäden. Findet man diese, hat man den Nachweis für einen Überspannungsschaden.
